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芯片测试东京TI将展示超高速USB 3.0传输芯片

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Texas Instruments将在近日在东京举行的USB Developers Conference上展示5Gbit/s传输测试芯片。据悉该技术可为新兴的USB 3.0接口技术提高速度。

  该测试芯片专为USB 3.0设计,可在超过4米的USB 3.0传输线上驱动及接收信号,并保持数据的完整性。

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